국정원 제보로 수사 착수… 지재처와 대전지방공소청 협력 기소한 제1호 사건
자신들이 재직했던 회사의 '반도체 검사 핵심기술'을 해외로 빼돌린 전직 직원 3명이 붙잡혔다.
지식재산처 기술유출특별사법경찰과(이하 '기술경찰')와 대전지방공소청 중대범죄기소2부는 기업이 국산화에 성공한 '반도체 검사 핵심기술'(프로브카드 기술)을 빼돌려 해외에서 재품을 생산한 A씨(45)를 부정경쟁방지법위반 및 산업기술보호법위반 혐의로 구속 기소했다고 14일 밝혔다. 또 범행에 가담한 전직 직원 B씨(40)와 C씨(40)도 불구속 기소했다.
해외에 체류하며 수사를 회피하고 있는 주범 D씨(58)에 대해서는 인터폴 적색수배를 요청했다.
이번 사건은 지식재산처 기술경찰이 해외 기술유출 사범을 검거해 대전지방공소청이 기소한 1호 사건이다.
기술경찰 등에 따르면 A씨 등은 2023년 11월부터 올해 2월까지 국내 피해기업의 현지 유통을 담당하는 해외 유통기업과 공모해 해외 제조기업을 설립하고 핵심기술 설계도면과 자료를 이용해 제품을 생산, 해외 대기업에 공급한 혐의를 받는다.
A씨, B씨, C씨는 피해기업 전 임원이면서 현재 해외 제조기업 사장인 D씨로부터 기존 연봉의 2배를 제안받고 이직한 것으로 드러났다.
피해기업은 이들의 범행으로 해외 시장을 상실할 경우 연간 400억원의 매출 손실이 발생할 상황이었다.
'프로브카드 기술'은 반도체 칩의 불량 여부를 웨이퍼 상태에서 검사하는 반도체 검사장비로 미국·일본 기업 등이 시장을 선점했다. 피해기업은 연구 끝에 국산화에 성공했고 고대역폭 메모리(HBM) 검사용 장비까지 개발해 국내 및 해외 주요 반도체 대기업에 제품을 공급하고 있다.
기술경찰은 국가정보원으로부터 첩보를 입수해 지난해 7월 수사에 착수했지만 A씨 등 피의자들이 해외에 체류하고 있어 수사에 어려움을 겪었다.
기술경찰은 국가정보원과 공조해 이들이 설립한 해외 제조기업이 조달·설계 등을 위해 이용하고 있는 국내 설계기업을 압수수색해 피해기업의 설계도면 및 기술자료를 확보했다.
반도체 업계에서 연구·개발 경험을 쌓은 전문 수사관과 증원된 수사인력을 집중 투입, 압수수색 자료를 정밀하게 분석해 출처가 지워진 자료가 피해기업의 기술을 바탕으로 작성·변형됐다는 사실을 밝혀냈다.
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정연우 지식재산처 차장은 "이번 사건은 검찰청의 공소청 전환 등 형사사법체계의 변화에도 긴밀하게 협조체계를 유지해 수사와 기소가 차질 없이 이뤄지도록 했다" 며 "앞으로도 철저한 수사로 국외 기술 유출범죄에 엄정 대응할 것"이라고 말했다.
